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    智能数据引擎平台
    YMS
    良率管理系统

    产品概览

    • 工厂管理的工程数据分析系统
      帮助用户用更高、更全面的视角、更专业的模型、准确的解决数据分析中的问题
    • 基于半导体工厂的生产、设备、厂务、质量等运营过程数据
      运用统计方法和模型进行整合
    • 多年积累的客户实施经验

      增加新的系统特性和增强模块

    智能工具与丰富应用场景

    功能特点

    • 01
      — 模块一 —

      数据管理及BI模块

    • 02
      — 模块二 —

      标准统计模型和图标模板

    • 03
      — 模块三 —

      基于业务层的数据整合管理和分析

    • 04
      — 模块四 —

      定制化分析模型模板，与FDC，ADC系统整合等

    优势效果

    • 面板行业定制化全厂良率趋势模板
    • 半导体CP良率与Defect Map Overlay管理
    • 半导体CP良率与Defect Map Overlay管理

    解决方案

    半导体封测智能制造方案
    半导体封测智能制造方案（国内前10封测大厂案例）
    智能远程集控中心
    节约人力30%以上 人员效率提升80% 设备效率提升3%~5%

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